全自动bar/chip芯片检测机 AOI-D170

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此设备针对bar条和单管chip外观检查所开发的高精度机型,以机器视觉检测为主,包括检测表面污染、镀膜异常、刮伤、断裂、破损、水波纹、镀层变色、小黄点、暗裂纹等外观瑕疵。

设备采用双通道轮换进行检测动作,可达到更快的检测效率机台结构主体采用大理石材质,具有更稳定、精度更高的特点。配备自动上下料机械手,提高设备工作效率。


产品摆放合格率
1~60mm*1~10*0.09mm-0.2mm(长×宽×厚)
设备占地面积(含操作区域)
1800mm×1600mm
检测缺陷种类 Detecting Defect Types
表面污染、镀膜异常、刮伤、断裂、破损、水波纹、暗裂纹等
贴片效率 Patch Efficiency
60-90秒/Bar(按一个bar条54颗chip折算)
设备外形尺寸 External Dimensions
1520mm×1200mm×2100mm
设备总质量 Total Equipment Mass
约1200kg
检测参数
中/英文显示,检测数据支持本地存档或上传MES系统等
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